集成LCAS仿真及VCG延时仿真的EOS测试仪

摘要

本发明公开了一种集成LCAS仿真及VCG延时仿真的EOS测试仪，包括：以太网接口，STM-N接口，以太网数据产生和检测模块，处理单元，所述EOS测试仪还包括虚级联组VCG查分延时与检测模块和链路调节机制LCAS仿真模块，其中VCG差分延时与检测模块，用于提取相同同步数字系列SDH帧中每个成员的复帧指示MFI差值，以得到所有成员的差分延时；LCAS仿真模块，用于控制虚级联组VCG链路的容量。EOS测试仪可以对每个VC-x通道进行延时控制，因此接收到的VCG成员都是不同的MFI值，因此可以测试VCG的差分延时；通过LCAS仿真模块可以无损地增加或减少VCG链路的容量，从而满足上层业务对带宽的需求。

主权项

1、集成LCAS仿真及VCG延时仿真的EOS测试仪，包括：以太网接口，与待测EOS以太网连接，接收发送以太网信号；STM-N接口，与待测EOS中STM-N接口相连，用于接收发送STM-N信号；以太网数据产生和检测模块，用于产生以太网测试信号，并对接收到的以太网信号进行检测；处理单元，包括SDH开销处理模块、VC映射与解映射模块及GFP封装与解封装模块；其特征在于，所述EOS测试仪还包括虚级联组VCG差分延时与检测模块和链路调节机制LCAS仿真模块，其中VCG差分延时与检测模块，用于提取相同同步数字系列SDH帧中每个成员的复帧指示MFI差值，以得到所有成员的差分延时；LCAS仿真模块，用于控制虚级联组VCG链路的容量。