发明名称 |
免疫色谱试验片的测定方法 |
摘要 |
本发明涉及一种免疫色谱试验片的测定方法,其特征在于:在将被检测体滴落到免疫色谱试验片41上后,在向免疫色谱试验片41上的第1位置(带状区域41c)照射测定光的同时检测反射光以检测第1位置上的吸光度的变化,并且在向免疫色谱试验片41上位于第1位置的下游侧的第2位置(带状区域41d)照射测定光的同时检测反射光以检测第2位置上的吸光度的变化,根据从第1位置上的吸光度发生变化起至第2位置上的吸光度发生变化为止的经过时间来补正呈色度。 |
申请公布号 |
CN101583873A |
申请公布日期 |
2009.11.18 |
申请号 |
CN200780049213.1 |
申请日期 |
2007.12.03 |
申请人 |
浜松光子学株式会社 |
发明人 |
山内一德 |
分类号 |
G01N33/543(2006.01)I;G01N21/64(2006.01)I;G01N21/78(2006.01)I |
主分类号 |
G01N33/543(2006.01)I |
代理机构 |
北京尚诚知识产权代理有限公司 |
代理人 |
龙 淳 |
主权项 |
1.一种免疫色谱试验片的测定方法,是通过检测由测定光的照射而从免疫色谱试验片所获得的光来测定抗原抗体反应的反应度的免疫色谱试验片的测定方法,其特征在于:在将被检测体滴落到所述免疫色谱试验片上后,在向所述免疫色谱试验片上的第1位置照射测定光的同时检测来自所述免疫色谱试验片的光以检测所述第1位置上的光学特性的变化,并且在向所述免疫色谱试验片上的位于所述第1位置的下游侧的第2位置照射测定光的同时检测来自所述免疫色谱试验片的光以检测所述第2位置上的光学特性的变化,根据从所述第1位置上的光学特性发生变化起至所述第2位置上的光学特性发生变化为止的经过时间来补正所述反应度。 |
地址 |
日本静冈县 |