发明名称 |
等离子显示屏模块的单元缺陷诊断方法和设备 |
摘要 |
本发明提供了一种方法和设备,该方法和设备可对PDP模块的单元缺陷进行诊断。该方法可包括:把PDP模块的屏幕划分为多个区域;在某些而不是所有的区域上显示用于诊断单元缺陷的图案;以及封锁其余区域中的至少一个区域。并且,在多个区域的至少两个区域内所识别的单元缺陷在组合时具有不同的权重,以便确定结果值,用于与PDP模块的阈值进行比较。 |
申请公布号 |
CN100562131C |
申请公布日期 |
2009.11.18 |
申请号 |
CN03128460.4 |
申请日期 |
2003.04.24 |
申请人 |
LG电子株式会社 |
发明人 |
朴寿源;许昭熙 |
分类号 |
H04N17/00(2006.01)I;H01J9/42(2006.01)I |
主分类号 |
H04N17/00(2006.01)I |
代理机构 |
中原信达知识产权代理有限责任公司 |
代理人 |
李 涛;钟 强 |
主权项 |
1.一种为诊断等离子显示屏模块的单元缺陷而构成的设备,该设备包括:比例缩放器IC,其构成为接收和输出用于诊断单元缺陷的图案,以及用于显示诊断区域和其余区域的边界线的屏幕显示线;等离子显示屏模块,其构成为显示比例缩放器IC的输出;和微计算机,其构成为控制比例缩放器IC,以显示等离子显示屏模块的屏幕中的多个区域中的诊断区域上的图案,其中,所述多个区域对其中的单元缺陷分别使用不同的预定权重,其中,所述微计算机被构成为在每个所述区域之间转移所述图案,以确定其中的各个单元缺陷并利用所述不同的预定权重组合所述各个单元缺陷来确定所述每个区域的得分;以及其中,所述微计算机被构成为组合所述多个得分来确定所述等离子显示屏模块的单元缺陷值。 |
地址 |
韩国首尔 |