| 发明名称 |
Semiconductor integrated circuit and testing method of same |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
EP1892725(A3) |
申请公布日期 |
2009.11.11 |
| 申请号 |
EP20070114734 |
申请日期 |
2007.08.22 |
| 申请人 |
FUJITSU MICROELECTRONICS LIMITED |
发明人 |
YAMAGUCHI, KOTA |
| 分类号 |
G11C29/00;G01R31/28;G11C29/44;H01L21/66 |
主分类号 |
G11C29/00 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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