| 发明名称 | 一种检测内存的方法和装置 | ||
| 摘要 | 本发明提供一种检测内存的方法和装置，方法包括：步骤一，按照预定顺序，向内存字节中写入预定类型的写入数据；步骤二，按照所述预定顺序从所述内存中获得读出数据，比较所述读出数据与所述写入数据是否相同，是则所述内存正常，否则所述内存出错。本发明能够更加直观、全面、系统的对内存进行检测。 | ||
| 申请公布号 | CN101576838A | 申请公布日期 | 2009.11.11 |
| 申请号 | CN200910084406.1 | 申请日期 | 2009.05.13 |
| 申请人 | 北京中星微电子有限公司 | 发明人 | 周大山;艾国;凌明 |
| 分类号 | G06F11/22(2006.01)I | 主分类号 | G06F11/22(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京银龙知识产权代理有限公司 | 代理人 | 郭海彬 |
| 主权项 | 1.一种检测内存的方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤一，按照预定顺序，向内存字节中写入预定类型的写入数据；步骤二，按照所述预定顺序从所述内存中获得读出数据，比较所述读出数据与所述写入数据是否相同，是则所述内存正常，否则所述内存出错。 | ||
| 地址 | 100083北京市海淀区学院路35号世宁大厦15层 | ||