发明名称 一种电子组件测试分类装置
摘要 本发明为一种电子组件测试分类装置,包含有:机台前端的供料匣、收料匣与空匣,所述的供料匣在堆栈区将料盘载送输出至暂置区供取料,收料匣在暂置区将料盘载送输入堆栈区供收料,空匣在暂置区与堆栈区间水平输入、出空料盘,以接收供料匣处的空料盘或补充收料匣处所需的空料盘,在机台后端有复数个具测试座与下压测试头的测试区,数个对应在各测试区测试座的转运机构,具有滑移的供料载台与收料载台,在机台的换料处与各测试座间承载运送待测与测试完的电子组件,一输送机构移载在供料匣、收料匣与转运机构间;从而利用各机构的时序搭配作动,有效缩短整体测试作业时间,达到提升测试产能的目的。
申请公布号 CN100559197C 申请公布日期 2009.11.11
申请号 CN200710002810.0 申请日期 2007.02.01
申请人 鸿劲科技股份有限公司 发明人 杨家彰;林锡义
分类号 G01R31/00(2006.01)I 主分类号 G01R31/00(2006.01)I
代理机构 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 代理人 孙皓晨
主权项 1.一种电子组件测试分类装置,其特征在于:其包含:供料匣,其承置有待测的电子组件;收料匣,其接收承置测试完的电子组件;空匣,其接收与提供空的料盘;测试区,其装设具有测试座的测试板,并在测试座的上方对应设有升降的下压测试头;转运机构,其设置对应在各测试区的测试座位置,其具有载台,所述的载台滑移在机台的换料处与测试座间,以运送待测与测试完的电子组件;输送机构,其是具有取放器,并移动在供料匣、收料匣与转运机构间的区域,以输送待测与测试完的电子组件,另设有一取放器,用以移载空的料盘;其中,所述的测试区是平行排列设置在机台前端位置与分置在机台两侧位置,而分置在机台两侧的测试区是与平行排列设置的测试区呈反向设置。
地址 中国台湾