| 发明名称 | 电子元件的检测系统及其检测方法 | ||
| 摘要 | 一种电子元件的检测系统，其特征在于，包括：一第一透明转盘，其中所述电子元件连续供应以放置于该第一透明转盘上方；一第一影像撷取单元，其设置于该第一透明转盘下方以检测所述电子元件的底面；一第二转盘，其邻接于该第一透明转盘；一导引单元，其设置于该第一透明转盘与该第二转盘的邻接位置，其中位于该第一透明转盘上的所述电子元件通过该导引单元导引转送至该第二转盘；以及多个第二影像撷取单元，其设置于该第二转盘上方以检测所述电子元件的其它外表面，由此利用第一透明转盘与第二转盘的搭配以提供较佳的检测装置。本发明还提出一种电子元件的检测方法。 | ||
| 申请公布号 | CN101576510A | 申请公布日期 | 2009.11.11 |
| 申请号 | CN200810095400.X | 申请日期 | 2008.05.05 |
| 申请人 | 久元电子股份有限公司 | 发明人 | 汪秉龙;陈桂标;陈信呈;周明澔 |
| 分类号 | G01N21/89(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/89(2006.01)I |
| 代理机构 | 隆天国际知识产权代理有限公司 | 代理人 | 潘培坤;雷志刚 |
| 主权项 | 1、一种电子元件的检测系统，其用于检测多个电子元件的外表面，其特征在于，包括：一第一透明转盘，其中所述电子元件连续供应以放置于该第一透明转盘上方；一第一影像撷取单元，其设置于该第一透明转盘下方以检测所述电子元件的底面；一第二转盘，其邻接于该第一透明转盘；一导引单元，其设置于该第一透明转盘与该第二转盘的邻接位置，其中位于该第一透明转盘上的所述电子元件通过该导引单元导引转送至该第二转盘；以及多个第二影像撷取单元，其设置于该第二转盘上方以检测所述电子元件的其它外表面。 | ||
| 地址 | 中国台湾新竹市 | ||