发明名称 像素电路基板的检查方法、像素电路、像素电路的检查方法及检查装置
摘要 提供一种无须结线等特别复杂的加工和处理,可有效地进行检查的像素电路。不经由显示元件而使依据检查电压之电流值的电流流过的像素电路。
申请公布号 TWI317112 申请公布日期 2009.11.11
申请号 TW094109694 申请日期 2005.03.29
申请人 樫尾计算机股份有限公司 发明人 白嵜友之;武居学
分类号 G09G3/00 主分类号 G09G3/00
代理机构 代理人 何金涂;何秋远
主权项 一种像素电路基板(1)之检查方法,系包括选择像素电路(Di,j)的选择步骤,及依据检查电压之电流值的检查电流不经由显示元件(Ei,j)而从前述像素电路流过的检查电流步骤,在前述选择步骤中,使施加指定电压到驱动电晶体(23)的闸极,保持电流可流动到前述驱动电晶体的汲极-源极的状态的保持电晶体(22),及将驱动电晶体的源极、汲极的任一方与信号线(Yj)连接,可使电流从前述驱动电晶体的汲极-源极流到前述信号线的状态的写入电晶体(21),呈导通(ON)状态,在前述检查电流步骤中,施加指定电压到前述驱动电晶体的汲极-源极间,取入流动于前述驱动电晶体的汲极源极的电流。
地址 日本