发明名称 | 显示装置的检查方法和检查装置、显示装置用基板和显示装置 | ||
摘要 | 提供一种显示装置的检查方法和检查装置、显示装置用基板和显示装置,上述显示装置的检查方法和检查装置能够高效且高精度地检查具有非矩形显示区域的显示装置。用具有非矩形显示区域的显示装置的设计信息,指定检查区域及分析区域。并且用设计信息求出寄生电容等,对检查数据或进行优劣判断的阈值进行加权运算而进行检查。 | ||
申请公布号 | CN101577079A | 申请公布日期 | 2009.11.11 |
申请号 | CN200910139189.1 | 申请日期 | 2009.05.11 |
申请人 | NEC液晶技术株式会社 | 发明人 | 高取宪一 |
分类号 | G09G3/00(2006.01)I;G01R31/305(2006.01)I | 主分类号 | G09G3/00(2006.01)I |
代理机构 | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人 | 孙志湧;李 亚 |
主权项 | 1.一种检查方法,检查具有多个像素且具有非矩形显示区域的显示装置的显示装置用基板,其特征在于,根据上述显示装置的设计信息,设定检查对象区域和分析对象区域中的至少一方。 | ||
地址 | 日本神奈川县川崎市 |