发明名称 荧光显微镜及荧光相关光谱分析装置
摘要 荧光显微镜(11),具有物镜(101)、分色镜(102)、半透镜(105)、反射镜(106)、激光源(111)、ND滤光器(112)、光束扩展器(113)、反射镜(114)、空间光调制元件(115)、透镜(131)、带通滤波器(132)、空间光调制元件(133)、检测部(134)。空间光调制元件(115),其空间光调制为可变的,并且通过经由以后的光学系统,向被测试样(1)上照射进行空间调制后的激发光,可以对被测试样(1)中的激发光照射区域的个数、位置、形状进行设定。
申请公布号 CN100559165C 申请公布日期 2009.11.11
申请号 CN200580029864.5 申请日期 2005.09.02
申请人 浜松光子学株式会社 发明人 长谷川宽;伊崎泰则
分类号 G01N21/64(2006.01)I 主分类号 G01N21/64(2006.01)I
代理机构 北京尚诚知识产权代理有限公司 代理人 龙 淳
主权项 1.一种荧光显微镜,向被测试样照射激发光并检测与之对应而产生的荧光,其特征在于,具有:激发光源部,输出激发光;激发光照射光学系统,具有对从所述激发光源部输出的激发光进行空间调制的空间光调制元件,并将由该空间光调制元件进行空间调制后的激发光照射于所述被测试样上;荧光检测光学系统,接受在利用所述激发光照射光学系统照射激发光的区域上产生的荧光并进行成像,同时,具有对入射到该成像面内的规定区域上的荧光进行选择地输出的选择输出单元;检测部,检测所述选择输出单元输出的荧光的强度,所述激发光源部,分别输出波长互不相同的第1激发光和第2激发光,作为所述激发光照射光学系统的所述空间光调制元件,对于第1激发光及第2激发光分别设置有专用的空间光调制元件,同时,所述激发光照射光学系统,以同一光路向所述被测试样照射进行空间调制后的第1激发光及第2激发光,所述荧光检测光学系统,具有分离部,分离在所述被测试样的照射有第1激发光的区域上产生的第1荧光,和在照射有第2激发光的区域上产生的第2荧光,同时,对于第1荧光及第2荧光的各个单独地具有所述选择输出单元,所述检测部,检测从所述选择输出单元输出的第1荧光及第2荧光各自的强度。
地址 日本静冈县