发明名称 集成基材移动模块的电子束测试系统
摘要 本发明提供电子束测试基材的方法及集成系统。在一个方案中,该集成系统包含一传送室,该传送室具有一基材工作台配置其中。该基材工作台可以在测试室中于水平及垂直方向移动基材。该基材工作台包括:第一平台,可以在第一维度移动;第二平台,可以在第二维度移动;以及第三平台,可以在第三维度移动。每一平台都可以独立地在各自维度移动。该系统也包括:负载锁定室,配置于邻接测试室的第一侧面;以及探测器储存组件,配置于测试室的下方。探测器堆积组件被配置于邻接测试室的第二侧面,且被安排在探测器储存组件与测试室之间传送一个或更多的探测器。而且,在测试室上表面配置有一或更多的电子束测试装置。
申请公布号 CN100559195C 申请公布日期 2009.11.11
申请号 CN200510008178.1 申请日期 2005.02.02
申请人 应用材料股份有限公司 发明人 栗田真一;伊曼纽尔·比尔;阮·亨·T;本杰明·约翰斯顿;法耶兹·E·阿布德
分类号 G01R31/00(2006.01)I 主分类号 G01R31/00(2006.01)I
代理机构 上海专利商标事务所有限公司 代理人 陆 嘉
主权项 1.一种集成测试系统,其至少包含:测试室,配置有基材工作台,基材工作台在测试室中于水平及垂直方向移动基材,基材工作台包含:第一平台,在第一维度移动;第二平台,在第二维度移动;第三平台,在第三维度移动,其中每一平台都独立地在各自维度移动;负载锁定室,配置于邻接测试室的第一侧面;以及末端受动器,位于测试室的内部,且适合在负载锁定室与测试室之间传送基材。
地址 美国加利福尼亚