发明名称 |
提高激光薄膜吸收测量空间分辨率的光学系统及方法 |
摘要 |
一种提高激光薄膜吸收测量空间分辨率的光学系统及方法,光学系统基于表面热透镜原理,由探测光路和泵浦光路组成;泵浦光经透镜聚焦后辐照于样品表面,探测光斑与泵浦光斑重合;样品表面上探测光的光斑相当于或大于泵浦光的光斑;探测光和泵浦光分别被斩波器同频调制且两列调制波的相位可控;样品反射的探测光经过成像透镜后由面阵列CCD相机接收;根据图像锁相原理得到薄膜吸收对应的图像锁相信号。本发明具有灵敏度高,调节简便,测量结果直观,测量的空间分辨率高的特点。 |
申请公布号 |
CN101576483A |
申请公布日期 |
2009.11.11 |
申请号 |
CN200910052375.1 |
申请日期 |
2009.06.02 |
申请人 |
中国科学院上海光学精密机械研究所 |
发明人 |
陶春先;凌秀兰;贺洪波;赵元安;李大伟;张蕾 |
分类号 |
G01N21/31(2006.01)I;G01N21/88(2006.01)I;G02F1/35(2006.01)I |
主分类号 |
G01N21/31(2006.01)I |
代理机构 |
上海新天专利代理有限公司 |
代理人 |
张泽纯 |
主权项 |
1、一种提高激光薄膜吸收测量空间分辨率的光学系统,其特征在于该系统由泵浦光路、探测光路、成像光路和计算机(17)构成:所述的泵浦光路由泵浦光(10)及沿该泵浦光(10)依次设置的第二衰减器(11)、第二调制器(12)和第二透镜(13)构成,该泵浦光(10)经第二透镜(13)聚集后照射在待测的薄膜样品(2)上形成泵浦光斑;所述的探测光路由探测光(5)及沿该探测光(5)依次设置的第一衰减器(6)、第一调制器(7)、第一反射镜(8)和第一透镜(9)构成,所述的探测光(5)经所述的第一调制器(7)进行相位调制和所述的第一透镜(9)聚集在待测的薄膜样品(2)上,使该探测光斑覆盖所述的泵浦光斑;所述的成像光路包括在所述的探测光的反射光方向的第二反射镜(14)、扩束透镜(15)和面阵CCD(16);所述的计算机(17)分别与所述的面阵CCD(16)、第一调制器(7)和第二调制器(12)相连。 |
地址 |
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