发明名称 免疫色谱试验片的测定装置
摘要 本发明涉及一种测定装置(1a),其具备:发光元件(21、31),向免疫色谱试验片(41)照射测定光;光检测元件(22),检测通过向免疫色谱试验片(41)上的第1位置(带状区域(41c))照射测定光而产生的来自免疫色谱试验片(41)的反射光;光检测元件(32),检测通过向较第1位置位于下游侧的第2位置(带状区域(41d))照射测定光而产生的来自免疫色谱试验片(41)的反射光;控制部(13),根据来自光检测元件(22、32)的输出信号,取得从第1位置(带状区域(41c))上的吸光度发生变化起至第2位置(带状区域(41d))上的吸光度发生变化为止的时间。
申请公布号 CN101578519A 申请公布日期 2009.11.11
申请号 CN200780049127.0 申请日期 2007.12.03
申请人 浜松光子学株式会社 发明人 山内一德
分类号 G01N33/543(2006.01)I;G01N21/64(2006.01)I;G01N21/78(2006.01)I 主分类号 G01N33/543(2006.01)I
代理机构 北京尚诚知识产权代理有限公司 代理人 龙 淳
主权项 1.一种免疫色谱试验片的测定装置,其特征在于,具备:一个或多个光照射部,向免疫色谱试验片照射测定光;第1光检测部,检测通过向所述免疫色谱试验片上的第1位置照射所述测定光而从所述免疫色谱试验片所获得的光;第2光检测部,检测通过向所述免疫色谱试验片上的较所述第1位置位于下游侧的第2位置照射所述测定光而从所述免疫色谱试验片所获得的光;以及控制部,根据来自所述第1及第2光检测部的输出信号,取得从所述第1位置上的光学特性发生变化起至所述第2位置上的光学特性发生变化为止的经过时间。
地址 日本静冈县