发明名称 |
用于修复不良输出入线之可重新组配记忆体区块冗余技术 |
摘要 |
本发明之实施例为一种于记忆体元件中提供可重新组配修复电路之技术。一表格结构含有多个登录项目,各个登录项目具有一不良位址字元及一冗余位址字元。冗余位址字元系与一冗余区块相对应,且系响应于对该记忆体元件之一记忆体区块中之一不良输出入线(I/O线)所作之一记忆体存取动作而产生。一解码电路解码冗余位址字元,来选择该冗余区块中之一冗余输出入线俾更换该不良输出入线。 |
申请公布号 |
TWI317132 |
申请公布日期 |
2009.11.11 |
申请号 |
TW095135989 |
申请日期 |
2006.09.28 |
申请人 |
英特尔公司 |
发明人 |
许柏昌;道奇 理查 |
分类号 |
G11C29/00 |
主分类号 |
G11C29/00 |
代理机构 |
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代理人 |
恽轶群;陈文郎 |
主权项 |
一种用于重新组配记忆体装置中冗余区块之设备,其包含有:含有多个登录项目之一表格结构,各个登录项目具有一不良位址字元及一冗余位址字元,该冗余位址字元系与一冗余区块相对应,且系回应于对一记忆体元件之一记忆体区块中之一不良输出入(I/O)线的一记忆体存取动作而产生;以及耦接至该表格结构之一解码电路,用来解码该冗余位址字元,供选定该冗余区块中之一冗余输出入线来替换该不良输出入线。 |
地址 |
美国 |