PROCEDIMIENTO PARA LA SUPERVISION DE ELEMENTOS DE SEMICONDUCTOR DE POTENCIA.

摘要

Un procedimiento para la supervisión de una disposición de circuito que consiste en lo menos dos superficies de contacto eléctricamente separadas mutuamente (10) con la misma funcionalidad o por lo menos dos grupos eléctricamente separados mutuamente de superficies de contacto (10) con la misma funcionalidad, en el que las superficies de contacto de un grupo están eléctricamente conectadas de forma conductora una a otra, estas superficies de contacto (10) están dispuestas en por lo menos un módulo de semiconductor de potencia (1, 27) y cada superficie de contacto eléctricamente separada o cada grupo de superficies de contacto eléctricamente separadas está eléctricamente conectado de forma conductora al punto neutro (22, 31) de por lo menos una conexión de estrella a través de por lo menos un componente activo o pasivo (21, 30) y todas las superficies de contacto eléctricamente separadas o todos los grupos eléctricamente separados de superficies de contacto están conectados eléctricamente de forma conductora a por lo menos una superficie de contacto adicional (16, 19) la cual está dispuesta exteriormente al módulo o a los módulos de semiconductor de potencia y ambos, el punto neutro (22, 31) y las superficies de contacto (16, 19) se conducen exteriormente con el propósito de evaluar el potencial, caracterizado porque, durante el funcionamiento, la diferencia de potencial entre los puntos neutros (22, 31) y la superficie de contacto adicional (16, 19) exterior al módulo de semiconductor de potencia se supervisa y la señal obtenida se utiliza para la detección del fallo de uno o de una pluralidad de conexiones eléctricamente conductoras a un módulo de semiconductor de potencia.