发明名称 |
METHOD FOR MEASURING PHYSICAL PROPERTIES OF ENDLESS COMPRESSED PRODUCTS, IN PARTICULAR OF CHIP BOARDS |
摘要 |
<p>Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Messung physikalischer Eigenschaften von Endlospressgütern insbesondere von Spanplatten bei dem in das Pressgut Sensorelemente (5) und damit verbundene Koppelelemente (3, 6) eingebettet werden, bei dem weiterhin eine Abfrageeinrichtung (1) vorgesehen ist, welche zu den Koppelementen (3, 6) eine elektrische Wirkverbindung aufweist und bei dem die Sensorelemente angeregt werden und aus der Antwort eine Aussage über die physikalischen Eigenschaften der Endlospressgüter getroffen wird.</p> |
申请公布号 |
WO2009133050(A1) |
申请公布日期 |
2009.11.05 |
申请号 |
WO2009EP55027 |
申请日期 |
2009.04.27 |
申请人 |
SIEMENS AG OESTERREICH;MEGNER, ALFRED PAUL;POHL, ALFRED;SCHINDELARZ, GEORG;ZALESAK, THOMAS |
发明人 |
MEGNER, ALFRED PAUL;POHL, ALFRED;SCHINDELARZ, GEORG;ZALESAK, THOMAS |
分类号 |
G01N29/24;G01D21/02;G01N29/04 |
主分类号 |
G01N29/24 |
代理机构 |
|
代理人 |
|
主权项 |
|
地址 |
|