发明名称 阻抗测量装置、显示面板及接合阻抗的测量方法
摘要 本发明适用于显示器领域,提供了一种阻抗测量装置,阻抗测量装置包括:第一基底,第一基底表面包括:接合区;接合区内的第一、第二、第三、第四接合垫;分别电连接第二及第三接合垫的第一开关电晶体;与第一开关电晶体电连接的第一开关导线;接合区上的第二基底,第二基底表面包括:第二基底的下表面,分别对应并电连接第一、第二、第三和第四接合垫的第一、第二、第三和第四测量凸块;电连接第一和第三测量凸块的第二开关电晶体;电连接第三和第四测量凸块的第三开关电晶体;电连接第二和第三开关电晶体的第二开关导线;第二基底的下表面,电连接第二开关导线的开关凸块。本发明能够直接测量得到接合垫与凸块的接合阻抗值。
申请公布号 CN101571560A 申请公布日期 2009.11.04
申请号 CN200910107571.4 申请日期 2009.06.03
申请人 深圳华映显示科技有限公司;中华映管股份有限公司 发明人 张锡明
分类号 G01R27/02(2006.01)I;G01R27/08(2006.01)I 主分类号 G01R27/02(2006.01)I
代理机构 深圳中一专利商标事务所 代理人 张全文
主权项 1.一种阻抗测量装置,其特征在于,所述装置包括:一第一基底,其表面包括一接合区,所述第一基底的表面包括:一第一接合垫、一第二接合垫、一第三接合垫以及一第四接合垫,依序设置于所述接合区内;一第一开关电晶体,设置于所述接合区内,所述第一开关电晶体的一源极与一汲极或一汲极与一源极分别电连接所述第二接合垫以及所述第三接合垫;一第一开关导线,电连接于所述第一开关电晶体的闸极;以及一开关连接元件,电连接于所述第一开关导线;以及一第二基底,设置于所述接合区上,所述第二基底包括:一第一测量凸块、一第二测量凸块、一第三测量凸块以及一第四测量凸块,依序设置于所述第二基底的下表面,且分别对应并电连接于所述第一接合垫、所述第二接合垫、所述第三接合垫以及所述第四接合垫;一第二开关电晶体,所述第二开关电晶体的一源极与一汲极或一汲极与一源极分别电连接所述第一测量凸块以及所述第三测量凸块;一第三开关电晶体,所述第三开关电晶体的一源极与一汲极或一汲极与一源极分别电连接所述第三测量凸块以及所述第四测量凸块;一第二开关导线,电连接于所述第二开关电晶体以及所述第三开关电晶体的闸极;以及一开关凸块,设置于所述第二基底的下表面,电连接于所述第二开关导线。
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