一种TD-SCDMA终端时间开关模板测试方法

摘要

本发明涉及TD-SCDMA终端射频一致性测试应用领域，涉及TD-SCDMA终端测试装置测量TD-SCDMA终端发出射频信号的功率和时间变换的一种TD-SCDMA终端时间开关模板测试方法。本发明通过控制射频开关闭合/关断状态改变射频信号到达射频前端的功率大小，实现测量TD-SCDMA终端信号功率变化较大的功能，在一个5ms子帧内就能完成TD-SCDMA终端时间开关模板(PVT)的测试，本发明对终端发射信号的重复性要求不高。本发明射频开关闭合/关断状态和接收的射频信号大小相关联，这样很好的保护射频模块，很好解决了其它测试方法对射频通道的高性能的要求。

主权项

1、一种TD-SCDMA终端时间开关模板测试方法，其特征是按照如下步骤进行：(1)在TD-SCDMA终端测试装置与TD-SCDMA终端间建立12.2kbps的RMC参考测量信道，再配置使TD-SCDMA终端进入回环测试模式，并使TD-SCDMA终端用单码道进行传输，控制TD-SCDMA终端的发射功率到最大，完成测试的准备工作；(2)置测试设备的射频开关于闭合状态；(3)控制被测TD-SCDMA终端发送信号；(4)通过测试设备中的时间延时装置向A/D转换器发出控制信号，确保第一个采样时钟上升沿滞后于射频开关控制信号，A/D转换器在一个码片时间内采样n个点，n≥2，数据处理装置并按下式计算每采样点的信号功率值：PON＝Nsample+PRF+PS0其中PON为采样点的信号功率值，Nsample为采样数据，PRF为射频通道的差损，PS0为射频开关处于闭合状态的功率损耗；(5)数据处理装置通过对n个采样点做RMS检波，计算并存储码片功率，计算公式为：$P_{\mathrm{RMS}}=\sqrt{{P_{\mathrm{ON}1}}^2+{P_{\mathrm{ON}2}}^2+...+{P_{\mathrm{ONn}}}^2}$其中PRMS为码片功率值，PON1为码片第一个采样点的信号功率值，PON2为码片第二个采样点的信号功率值，PONn为码片第n个采样点的信号功率值；(6)数据比较装置将采样码片数与一个子帧码元数进行比较，当采样码片数大于或等于一个子帧码元数，跳转到步骤(12)；当采样码片数小于一个子帧码元数，进入下一步；(7)数据比较装置将采样功率值PON与参考功率值P1进行比较，当采样功率值PON小于参考功率值P1时，射频开关控制装置置射频开关于闭合状态，重复步骤(4)～(7)，当采样功率值PON大于、等于参考功率值P1时，射频开关控制装置置射频开关于关断状态，进入下一步；(8)A/D转换器在一个码片时间内采样n个点，n≥2，数据处理装置将按下式计算每采样点信号功率值：POFF＝Nsample+PRF+Ps1其中POFF为采样点的信号功率值，Nsample为采样数据，PRF为射频通道的差损，PS1为射频开关处于关断状态的功率损耗；(9)数据处理装置通过对n个采样点做RMS检波，计算并存储码片功率，计算公式为：$P_{\mathrm{RMS}}=\sqrt{{P_{\mathrm{OFF}1}}^2+{P_{\mathrm{OFF}2}}^2+...+{P_{\mathrm{OFFn}}}^2}$其中PRMS为码片功率值，POFF1为码片第一个采样点的信号功率值，POFF2为码片第二个采样点的信号功率值，POFFn为码片第n个采样点的信号功率值；(10)将采样码片数与一个子帧码元数进行比较；当采样码片数大于等于一个子帧码元数，跳转到步骤(12)；当采样码片数小于一个子帧码元数，进入下一步；(11)将采样功率值POFF与参考功率值P2进行比较；参考功率值P2小于参考功率值P1，当采样功率值POFF大于参考功率值P2时，通过射频开关控制装置置射频开关于关断状态，重复步骤(8)～(11)；当采样功率值POFF小于、等于参考功率值P2时，通过射频开关控制装置置射频开关于闭合状态，跳转到步骤(4)；(12)PVT绘制和判决装置根据TD-SCDMA标准和用户需求将对应位置的数据显示在对应发射时间开关模板上；(13)PVT绘制和判决装置判断终端的发射信号功率是否在时间开关模板限定范围内，给出合格或不合格的测量结果。