发明名称 制造互连结构的方法
摘要 描述了采用铜填充工艺来填充沟槽(12)的镶嵌工艺。铜填充(20)开始于包括铜和钛的沉积种子层(52)。在铜填充工艺中,一些钛迁移至表面。在氮气环境下对该结构进行退火,这在铜填充(20)的表面上产生自对准的TiN阻挡(24)。可以在同一退火工艺中产生空气间隙(26)。该工艺可以被用来形成多层结构。
申请公布号 CN101573787A 申请公布日期 2009.11.04
申请号 CN200780049242.8 申请日期 2007.12.31
申请人 NXP股份有限公司 发明人 罗埃尔·达门;罗伯图斯·A·M·沃尔特斯;马蒂纳斯·P·M·玛斯;帕斯卡尔·班肯;朱利恩·M·M·米舍隆
分类号 H01L21/768(2006.01)I 主分类号 H01L21/768(2006.01)I
代理机构 北京天昊联合知识产权代理有限公司 代理人 陈 源;张天舒
主权项 1.一种形成铜互连结构的方法,包括:(a)形成图案限定层(9);(b)在所述图案限定层(9)中蚀刻出沟槽(12);(c)在所述沟槽侧壁上沉积阻挡材料(14);(d)在所述阻挡材料(14)上沉积铜和钛的种子层(16);(e)沉积铜(18)来填充所述沟槽(12);(f)执行化学机械抛光步骤;以及(g)在周围为氮气的环境下对所述结构进行退火,使钛在铜的暴露表面上与氮气发生反应,来在铜上形成自对准的TiN阻挡(24)。
地址 荷兰艾恩德霍芬