发明名称 一种光存储单元的倒空信号测试电路
摘要 本发明公开了一种光存储单元的倒空信号测试电路,特点是该电路由二个单稳态电路及反相器F、运放器H和选通开关W串接而成,单稳态电路由六个端口的双D触发器、电容和可变电阻组成,来自倒空读出电路的输出信号接入第一个单稳态电路,经反相器、运放器处理后作为VB信号输出和下一个单稳态电路的信号输入,最后以RS信号输出。本发明的倒空信号由另外的电路独立产生,不依赖于复位信号,可灵活调节倒空脉冲的时间、信号的宽度以及倒空信号与复位信号的位置,方便测试不同倒空条件下光存储传感器和电路对接后的工作情况,与现有技术相比具有很好的可操作性和实用性,信号参数方便调节的优点。
申请公布号 CN101572124A 申请公布日期 2009.11.04
申请号 CN200910052611.X 申请日期 2009.06.05
申请人 华东师范大学 发明人 韩建强;郭方敏;詹国钟;熊大元;越方禹;朱自强;褚君浩
分类号 G11C29/00(2006.01)I;H03K3/033(2006.01)I;H03K3/017(2006.01)I;H03K5/00(2006.01)I;G11B7/00(2006.01)I 主分类号 G11C29/00(2006.01)I
代理机构 上海蓝迪专利事务所 代理人 徐筱梅
主权项 1、一种光存储单元的倒空信号测试电路,其特征在于该电路由二个单稳态电路及反相器F、运放器H和选通开关W串接而成,单稳态电路由六个端口的触发器L、电容C和可变电阻R组成,触发器L1的S端接地;CLK为时钟信号端接倒空读出电路输出信号;Q端依次串接可变电阻R1、电容C1后接地;I端共接可变电阻R1、电容C1;Q-端分别接触发器L1的D端、反相器F的输入端和选通开关W的①端;反相器F的输出端接运放器H正极和选通开关W的②端;运放器H的输出端作为VB信号输出;选通开关W的③端接下一个单稳态电路;触发器L2的CLK时钟信号端接选通开关W的③端;S端接地;Q端依次串接可变电阻R2、电容C2后接地;I端共接可变电阻R2、电容C2;Q-端接触发器L2的D端后作为RS信号输出。
地址 200241上海市闵行区东川路500号