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发明名称 Scan-based testing of devices implementing a test clock control structure (TCCS)
摘要
申请公布号 EP1873539(B1) 申请公布日期 2009.11.04
申请号 EP20070252561 申请日期 2007.06.25
申请人 SILICON IMAGE, INC. 发明人 SUL, CHINSONG
分类号 G01R31/3185;G01R31/319;G06F11/27 主分类号 G01R31/3185
代理机构 代理人
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