一种平面显示器及其测试方法

摘要

本发明适用于显示器领域，提供了一种平面显示器及其测试方法。其中，平面显示器的晶片放置区设置两组数据衬垫。晶片放置区中还形成数个测试开关单元，每一测试开关单元的控制端耦接测试开关控制信号输入衬垫，部分测试开关单元的第一端和第二端分别耦接于第一组数据衬垫和第一测试衬垫，另一部分测试开关单元的第一端和第二端分别耦接于第二组数据衬垫和第二测试衬垫。在驱动晶片置入晶片放置区后，提供测试开关控制信号予测试开关控制信号输入衬垫并测量第一和第二测试衬垫是否导通以决定驱动晶片接脚间有无短路。本发明实现了在量产液晶显示器的过程中尤其在形成信号导线的制程时马上进行修补或是汰换，以免流入下一个制程。

主权项

1.一种平面显示器的测试方法，其特征在于，所述方法包括步骤：(a)形成一晶片放置区于一玻璃基板上，所述晶片放置区包括多个数据衬垫，所述多个数据衬垫包括一第一组数据衬垫以及一第二组数据衬垫，其中相邻的两个数据衬垫分别属于所述第一组数据衬垫以及所述第二组数据衬垫；(b)形成一测试开关控制信号输入衬垫、一第一测试衬垫以及一第二测试衬垫于所述玻璃基板上；(c)于所述晶片放置区之中形成多个测试开关单元，且每一测试开关单元包括一第一端、一第二端以及一控制端，其中每一测试开关单元的所述控制端耦接于所述测试开关控制信号输入衬垫，对应于所述第一组数据衬垫的测试开关单元的第一端耦接于所述第一组数据衬垫，对应于所述第一组数据衬垫的测试开关单元的第二端耦接于所述第一测试衬垫，对应于所述第二组数据衬垫的测试开关单元的第一端耦接于所述第二组数据衬垫，对应于所述第二组数据衬垫的测试开关单元的第二端耦接于所述第二测试衬垫；(d)将一驱动晶片放置于所述晶片放置区内；以及(e)当一测试开关控制信号输入所述测试开关控制信号输入衬垫时，测量所述第一测试衬垫与所述第二测试衬垫的电性参数值。