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Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zum Steuern von Anschlusspins eines emulationsfähigen Bausteins, wobei es möglicht ist, die Anschlusspins über den Zugriff auf ein Boundary Scan Register zu kontrollieren. Mit dem Verfahren ist es möglich, Bausteine in einen Test nach dem Boundary Scan Standard einzubeziehen, was insbesondere für den Test von Leiterplatten wichtig ist. Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Möglichkeit zu finden, so dass die Unzulänglichkeiten überwunden werden und der Funktionstest als integrativer Bestandteil des Boundary Scan Testverfahrens eingebunden wird. Erfindungsgemäß wird diese Aufgabe mit einem Verfahren zum Steuern von Anschlusspins eines emulationsfähigen Bausteins mittels eines Computers und einer Boundary Scan Steuereinheit dadurch gelöst, dass Mittel verwendet werden, die die Funktion einer Boundary Scan Logik und eines Boundary Scan Registers nachbilden, so dass der emulationsfähige Baustein für Prüfzwecke voll kompatibel zum Boundary Scan Standard wird.
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