NANDFLASH坏块的检测及其烧写装置

摘要

本实用新型公开了一种NANDFLASH坏块的检测及其烧写装置，属于烧写技术领域，其结构包括CPU、SDRAM、LED显示和NOR FLASH，SDRAM、LED显示和NOR FLASH均接在CPU上，CPU接NANDFLASH座。本实用新型的NANDFLASH坏块的检测及其烧写装置，NANDFLASH部分用NANDFLASH座代替，焊接时只焊接座，而将需要检测或者烧写的NANDFLASH直接放到座上，检测及其烧写程序烧写在NORFLASH中；具有设计合理、结构简单、易于加工、使用方便等特点。

主权项

1、NANDFLASH坏块的检测及其烧写装置，包括CPU、SDRAM、LED显示和NORFLASH，其特征在于SDRAM、LED显示和NOR FLASH均接在CPU上，CPU接NANDFLASH座。