发明名称 液晶显示模组测试方法
摘要 本发明主要涉及一种液晶显示模组测试方法,尤其是指一种利用推车运送液晶显示模组,且能减少液晶显示模组测试方法的安装、拆卸次数的液晶显示模组测试方法;其系将TFT-LCD面板与背光模组装完成后之待测复数液晶显示模组,置于一推车的複数滑动框架,利用推车运送待测複数液晶显示模组进行后续液晶显示模组测试流程;实施本发明之液晶显示模组测试方法时,只需要将液晶显示模组安装于推车上,进行一系列的检查,检查完毕后将液晶显示模组从推车上拆卸。以此方式降低液晶显示模组安装、拆卸的次数,减少人工的浪费及液晶显示模组的损耗。
申请公布号 CN101566736A 申请公布日期 2009.10.28
申请号 CN200810027724.X 申请日期 2008.04.25
申请人 深超光电(深圳)有限公司 发明人 赖世道
分类号 G02F1/13(2006.01)I 主分类号 G02F1/13(2006.01)I
代理机构 东莞市中正知识产权事务所 代理人 侯来旺
主权项 1.一种液晶显示模组测试方法,其特征在于,其系包括下列步骤:将TFT-LCD面板与背光模组装完成后之待测複数液晶显示模组,置于一推车的複数滑动框架;以及进行一液晶显示模组测试流程。
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