发明名称 三重扩散法制备绝缘栅双极晶体管用N-/P-/P+衬底方法
摘要 本发明公开了一种采用三重扩散法制备绝缘栅双极晶体管用N-/P-/P+衬底方法。包括如下步骤:1)在硅单晶片整个面上预扩散P+/P-半导体杂质;2)在1260~1300℃温度下,进行100~250小时硅内预扩散P+/P-杂质的推结;3)研磨去除一表面的P+/P-扩散层,并抛光N-面为镜面;4)在N-/P-/P+硅基片上制成绝缘栅双极晶体管。本发明基于外延片与扩散片价格上的差异,通过采用三重扩散工艺方法来制作耐压在600-1200V之间的绝缘栅双极晶体管(IGBT)衬底片,具有良好的经济效益。
申请公布号 CN100555585C 申请公布日期 2009.10.28
申请号 CN200810121645.5 申请日期 2008.10.23
申请人 杭州杭鑫电子工业有限公司 发明人 陈福元;毛建军;胡煜涛;胡梦
分类号 H01L21/331(2006.01)I 主分类号 H01L21/331(2006.01)I
代理机构 杭州求是专利事务所有限公司 代理人 张法高
主权项 1、一种三重扩散法制备绝缘栅双极晶体管用N-/P-/P+衬底硅片的方法,其特征在于包括如下步骤:1)在硅单晶片整个面上预扩散P+/P-半导体杂质;2)在1260~1300℃温度下,进行100~250小时硅内预扩散P+/P-杂质的推结;3)研磨去除一表面上的P+/P-扩散层,并抛光N-面为镜面;4)在N-/P-/P+硅片上制成绝缘栅双极晶体管。
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