| 发明名称 | 一种基于相变材料的透射电镜电学测量载网 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种透射电子显微镜样品载网，属于纳米材料测量领域。包括有支撑部分和电路部分，所述的支撑部分包括有金属环(1)，所述的电路部分包括有两个电极(2)、待测元件和相变材料非晶薄膜(5)，电极(2)与金属环(1)绝缘粘合，相变材料非晶薄膜(5)均匀分布在两电极(2)之间，相变材料薄膜(5)为非晶态，待测元件位于相变材料非晶薄膜(5)中或者集成在其中的一个电极(2)上。本发明中的连线具有可擦写的特点，通过电极两端加较高电压，或者直接对载网进行一定的激光脉冲辐照，使相变材料薄膜完全非晶化，使已经形成的电流通路消失实现了测量电路的可选择性，可反复擦写性。 | ||
| 申请公布号 | CN100552864C | 申请公布日期 | 2009.10.21 |
| 申请号 | CN200810056408.5 | 申请日期 | 2008.01.18 |
| 申请人 | 北京工业大学 | 发明人 | 张泽;王珂;刘攀;韩晓东 |
| 分类号 | H01J37/20(2006.01)I;H01J37/26(2006.01)I;G01N23/00(2006.01)I | 主分类号 | H01J37/20(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京思海天达知识产权代理有限公司 | 代理人 | 张 慧 |
| 主权项 | 1、一种基于相变材料的透射电镜电学测量载网，其特征在于：包括有支撑部分和电路部分，所述的支撑部分包括有金属环(1)，所述的电路部分包括有两个电极(2)、待测元件和相变材料非晶薄膜(5)，电极(2)与金属环(1)绝缘粘合，相变材料非晶薄膜(5)均匀分布在两电极(2)之间，相变材料非晶薄膜(5)为非晶态，待测元件位于相变材料非晶薄膜(5)中或者集成在其中的一个电极(2)上；所述的相变材料非晶薄膜(5)在电子束或激光辐照下从非晶相相变为晶体相，并能够在高电压或电脉冲或激光照射下从晶体转变为非晶。 | ||
| 地址 | 100022北京市朝阳区平乐园100号 | ||