发明名称 |
影像光学系统平面分辨率校正方法及其装置 |
摘要 |
本发明系一种影像光学系统平面分辨率校正方法及其装置,包括一校正样本以及一影像感测装置,该校正样本表面具有明线与暗线相间的直线条纹,该校正样本设置于一待测平面处,一影像感测装置具有影像撷取手段、记忆手段以及逻辑演算手段。藉以执行撷取校正样本影像信息并储存影像信息,同时选择并计算明线条纹之直线方程式,透过直线方程式之直线斜率与截距,且利用截距计算相邻明线之平均距离,最后以几何数学之手段计算影像感测装置所撷取的影像倍率。 |
申请公布号 |
CN100553348C |
申请公布日期 |
2009.10.21 |
申请号 |
CN200510109003.X |
申请日期 |
2005.10.13 |
申请人 |
致茂电子股份有限公司 |
发明人 |
林耀明;张维哲;张宏彰 |
分类号 |
H04N17/00(2006.01)I;H04N5/14(2006.01)I |
主分类号 |
H04N17/00(2006.01)I |
代理机构 |
北京银龙知识产权代理有限公司 |
代理人 |
张敬强 |
主权项 |
1.一种影像光学系统平面分辨率校正方法,包括下列步骤:提供一校正样本以及一影像感测装置,该校正样本表面具有明线与暗线相间的直线条纹,该校正样本设置于一待测平面处,所述影像感测装置具有影像撷取单元、记忆单元以及逻辑演算单元;在影像感测装置的有效感测范围内选择连续排列之数条明线与暗线;透过所述影像撷取单元撷取所述校正样本的影像信息;透过所述记忆单元储存所述影像信息;透过所述逻辑演算单元以影像边界进行判断的影像处理方法,以影像感测装置之像素为参考坐标定义正交之第一轴与第二轴,并计算出所选择之明线条纹的数量以及直线方程式,其中直线方程式包括直线斜率a以及截距b信息,斜率a为直线在第一轴方向增加单位距离时的第二轴增加量,截距b为直线与第二轴相交位置;透过逻辑演算单元以各个明线直线方程式的截距b,计算相邻明线在第二轴方向上的平均距离Δb;以及透过逻辑演算单元计算所述影像撷取单元所撷取的影像的像素在第一轴方向的最小解析长度所对应的第一倍率为<img file="C2005101090030002C1.GIF" wi="252" he="72" /> |
地址 |
中国台湾桃园县 |