| 发明名称 | 可动态变更测试流程的测试方法 | ||
| 摘要 | 本发明是有关于一种可动态变更测试流程的测试方法，可以对测试条件不同且测试流程不同的产品进行多点测试，用于测试一晶圆，该方法包括以下步骤：决定该晶圆每一坐标的晶粒的测试流程；以一多点测试执行测试；根据多点测试的各接触点的坐标，执行测试流程；以及产生测试结果与分类。本发明在同一晶圆上，可以测试多种测试条件与测试程序都不相同的晶粒、可以同时烧录多种只读记忆体码于同一片晶圆上、可以动态新增一测试步骤于原测试流程中，非常适于实用。 | ||
| 申请公布号 | CN101561474A | 申请公布日期 | 2009.10.21 |
| 申请号 | CN200810090449.6 | 申请日期 | 2008.04.14 |
| 申请人 | 京元电子股份有限公司 | 发明人 | 王宪旌;杨世礼 |
| 分类号 | G01R31/26(2006.01)I;G01B21/00(2006.01)I;B07C5/344(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/26(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 | 代理人 | 寿 宁;张华辉 |
| 主权项 | 1、一种可动态变更测试流程的测试方法，用于测试一晶圆，其特征在于该方法包括以下步骤：决定该晶圆每一座标的晶粒的测试流程；以一多点测试(multi-site)执行测试；根据多点测试的各接触点的座标，执行测试流程；以及产生测试结果与分类。 | ||
| 地址 | 中国台湾新竹市 | ||