半导体记忆装置之测试驱动方法

摘要

一种半导体记忆装置之测试驱动方法，系于进入测试模式后，选取受一驱动线控制之复数条字元线；其次，测试单元对该等字元线之控制线进行致能；随之，开启该等字元线中其中一字元线，该测试单元致能该驱动线；然后该受致能之驱动线将驱动信号经该等致能之控制线输出至该等字元线上。

主权项

一种半导体记忆装置之驱动测试方法，其中该半导体记忆装置系包括复数条字元线及对应之驱动电路，驱动电路受对应之控制线及驱动线所传送之讯号所控制，其系包括下列步骤：进入一测试模式，选取受一驱动线控制之复数条字元线；测试单元对该等字元线之对应控制线进行致能；开启该等字元线中其中一字元线，该测试单元致能该驱动线；该受致能之驱动线将驱动信号经该等致能之控制线送至该等字元线上；经过一既定时间后，对该驱动线进行除能以关闭该等字元线，该等控制线仍保持致能状态；及重复对该驱动线进行致能/除能动作，俾可重复开启该等字元线。