发明名称 Process for fabricating a semiconductor device with metallic gate and semiconductor device
摘要 <p>Für ein monolithisch integriertes Bauelement mit einem Feldeffekttransistor wird ein vorteilhafter Aufbau und ein vorteilhaftes Herstellungsverfahren für die Steuerelektrode des Feldeffekttransistors angegeben. </p>
申请公布号 EP1835528(A3) 申请公布日期 2009.10.21
申请号 EP20060007759 申请日期 2006.04.13
申请人 UNITED MONOLITHIC SEMICONDUCTORS GMBH 发明人 BEHAMMER, DAG;ILGEN, MICHAEL PETER
分类号 H01L21/28;H01L21/338;H01L29/423;H01L29/812 主分类号 H01L21/28
代理机构 代理人
主权项
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