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发明名称 SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS AND SEMICONDUCTOR MEMORY TESTING METHOD
摘要
申请公布号 KR100922422(B1) 申请公布日期 2009.10.16
申请号 KR20077022866 申请日期 2007.04.20
申请人 发明人
分类号 G11C29/00;G11C16/06;G11C16/08 主分类号 G11C29/00
代理机构 代理人
主权项
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