发明名称 用于验证电路的模型检测中的模型抽象方法及其系统
摘要 本发明涉及用于验证电路的模型检测中的模型抽象方法和系统,所述电路由Verilog设计,所述方法包括:步骤1,读入所述电路的Verilog代码,依据检测需求处理所述Verilog代码中的变量,以规范并简化所述代码;步骤2,根据规范后的所述变量和该变量的赋值,提取所述电路的数据路径;步骤3,提取数据路径的数据运算,根据该数据运算抽象所述数据路径;步骤4,对抽象后的所述变量和该变量的赋值进行操作,生成状态机的状态集和边集。本发明能够在用户提供必要的信息后,自动对Verilog代码进行分析,从中提取数据路径。
申请公布号 CN101556627A 申请公布日期 2009.10.14
申请号 CN200910083790.3 申请日期 2009.05.13
申请人 中国科学院计算技术研究所 发明人 陈博文;沈海华
分类号 G06F17/50(2006.01)I 主分类号 G06F17/50(2006.01)I
代理机构 北京律诚同业知识产权代理有限公司 代理人 祁建国;梁 挥
主权项 1.一种用于验证电路的模型检测中的模型抽象方法,所述电路为Verilog设计,其特征在于,所述方法包括:步骤1,读入所述电路的Verilog代码,依据检测需求处理所述Verilog代码中的变量,以规范并简化所述代码;步骤2,根据规范后的所述变量和所述变量的赋值,提取所述电路的数据路径;步骤3,提取所述数据路径的数据运算,根据所述数据运算抽象所述数据路径;步骤4,对抽象后的所述代码中的变量和所述变量的赋值进行操作,生成状态机的状态集和边集。
地址 100080北京市海淀区中关村科学院南路6号