用于检测标记颗粒的微电子传感器装置

摘要

本发明涉及一种用于检测包含例如磁性颗粒(1)的标记颗粒的目标组件的微电子传感器装置。所述传感器装置包含具有结合表面(12)的载体(11)，目标组件可以收集在所述结合表面并可选地结合到特定捕获元件。输入光束(L1)传输到所述载体内且在所述结合表面(12)全内反射。所述输出光束(L2)内的光的量以及可选地由目标组件在所述结合表面发射的荧光的量随后被光检测器(31)检测。在全内反射期间产生的倏逝光受位于所述结合表面(12)的目标组件和/或标记颗粒(1)影响(吸收，散射)，且因此将在所述输出光束(L2)内消失。这可用于基于所述输出光束(L2，L2a，L2b)内光的量来确定目标组件在所述结合表面(12)的数量。磁场发生器(41)可选地用于在所述结合表面(12)产生磁场(B)，磁性标记颗粒(1)可受所述磁场操纵，例如15被吸引或排斥。

主权项

1.一种用于检测包含标记颗粒(1)的目标组件的微电子传感器装置，包括：a)具有结合表面(12，112，512)的载体(11，111，211，311，411，514)，目标组件可以收集在所述结合表面；b)光源(21，121)，用于发射输入光束(L1，L1a，L1b)到所述载体内，使得所述输入光束在研究区域(13，313a，313b)内在所述结合表面全内反射；c)光检测器(31，131)，用于确定输出光束(L2，L2a，L2b)内光的量，所述输出光束包含所述全内反射光的至少一部分。