发明名称 |
一种发光二极管背光模块的测试架构 |
摘要 |
本实用新型适用于LED测试技术领域,提供了一种发光二极管背光模块的测试架构,可对一LED背光模块进行测试。其中,该LED背光模块的测试架构包括一直流电源模块,一控制单元及复数个电子负载;其中,该控制单元可调变电子负载的阻抗,以达到调整LED背光模块内的每个线光源串行的电流大小的目的。本实用新型提供的测试架构不会影响整体响应速度,且由直流电源模块经过一控制单元调整电子负载的阻抗,可提供更广大的电流使用范围及较低的涟波电流,且适用于各种尺寸的背光面板。 |
申请公布号 |
CN201327518Y |
申请公布日期 |
2009.10.14 |
申请号 |
CN200820235214.7 |
申请日期 |
2008.12.17 |
申请人 |
中茂电子(深圳)有限公司 |
发明人 |
吴程远;简裕昌;陈文智 |
分类号 |
G01R31/00(2006.01)I;G01R31/26(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/00(2006.01)I |
代理机构 |
广东国晖律师事务所 |
代理人 |
欧阳启明 |
主权项 |
1、一种发光二极管背光模块的测试架构,用于对由复数个线光源串行并联组成、且其中每个线光源串行由复数个发光二极管串联而成的发光二极管背光模块进行测试,所述的测试架构包括:一直流电源模块,该直流电源模块与该发光二极管背光模块相连接;一控制单元,且该控制单元与该直流电源模块相连接;以及复数个电子负载,其中每一个电子负载分别连接于该线光源串行的末端,并与该控制单元连接;其中,该控制单元可调变电子负载的阻抗。 |
地址 |
518054广东省深圳市南山区登良路南油天安工业村4号厂房8F |