发明名称 晶片测试系统及其承载板
摘要 一种晶片测试系统,包括一承载板以及一晶片测试机,其中承载板包括一晶片连接器以及一负载模拟器。晶片连接器用以电性连接于一晶片,负载模拟器则包括至少一负载单元,并藉由控制信号来决定负载单元的阻抗值。而晶片测试机则是于测试时电性连接至承载板。
申请公布号 TWI315792 申请公布日期 2009.10.11
申请号 TW095140613 申请日期 2006.11.02
申请人 奇景光电股份有限公司 发明人 杨宇助;谢佳盛;苏怡霖;张家荣;董建良;洪瑞国;陈建儒;颜铭贤;陈英烈;卜令楷
分类号 G01R31/28 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人 蔡坤财;李世章
主权项 一种测试系统,用以测试一晶片,该测试系统包括:一承载板,包括:一晶片连接器,具有复数个连接脚,于测试时经由该些连接脚而电性连接该晶片;及一负载模拟器,包括至少一负载单元,耦接至该些连接脚之至少一个,该负载单元系藉由一控制信号而决定该负载单元之阻抗值;以及一晶片测试机,于测试时电性连接至该承载板。
地址 台南县新市乡紫楝路26号
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