发明名称 | 晶片测试系统及其承载板 | ||
摘要 | 一种晶片测试系统,包括一承载板以及一晶片测试机,其中承载板包括一晶片连接器以及一负载模拟器。晶片连接器用以电性连接于一晶片,负载模拟器则包括至少一负载单元,并藉由控制信号来决定负载单元的阻抗值。而晶片测试机则是于测试时电性连接至承载板。 | ||
申请公布号 | TWI315792 | 申请公布日期 | 2009.10.11 |
申请号 | TW095140613 | 申请日期 | 2006.11.02 |
申请人 | 奇景光电股份有限公司 | 发明人 | 杨宇助;谢佳盛;苏怡霖;张家荣;董建良;洪瑞国;陈建儒;颜铭贤;陈英烈;卜令楷 |
分类号 | G01R31/28 | 主分类号 | G01R31/28 |
代理机构 | 代理人 | 蔡坤财;李世章 | |
主权项 | 一种测试系统,用以测试一晶片,该测试系统包括:一承载板,包括:一晶片连接器,具有复数个连接脚,于测试时经由该些连接脚而电性连接该晶片;及一负载模拟器,包括至少一负载单元,耦接至该些连接脚之至少一个,该负载单元系藉由一控制信号而决定该负载单元之阻抗值;以及一晶片测试机,于测试时电性连接至该承载板。 | ||
地址 | 台南县新市乡紫楝路26号 |