发明名称 Verfahren zur Bestimmung einer Phasenlage einer Magnetisierung und Magnetresonanzanlage
摘要 Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Bestimmung einer Phasenlage einer Magnetisierung, die für die Aufnahme von Magnetresonanzsignalen aus einer Schicht eines Untersuchungsobjekts (102) durch Einstrahlen eines adiabatischen HF-Pulses (512) hervorgerufen wird, mit den folgenden Schritten: - Einstrahlen eines HF-Pulses erster Art (505) und Aufnehmen eines ersten Magnetresonanzsignals (511), - Einstrahlen eines adiabatischen HF-Pulses (512, 513, 514) und Aufnehmen eines zweiten Magnetresonanzsignals (519), - Berechnen einer Phase einer durch den HF-Puls erster Art (505) induzierten Magnetisierung als eine erste Phase (phiSINC) und Berechnen einer Phase einer durch den adiabatischenHF-Puls induzierten Magnetisierung als eine zweite Phase (phiAHP), und - Bestimmen der Phasenlage der zweiten Phase (phiAHP) in Bezug auf die erste Phase (phiSINC).
申请公布号 DE102008014060(A1) 申请公布日期 2009.10.08
申请号 DE200810014060 申请日期 2008.03.13
申请人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT 发明人 PARK, JAESEOK
分类号 G01R33/565;A61B5/055;G01R33/54 主分类号 G01R33/565
代理机构 代理人
主权项
地址