| 摘要 |
La présente invention concerne un spectromètre comprenant un dioptre (11), des moyens de capture (15,18) au niveau dudit dioptre (11) d'un interférogramme (12) issu de deux faisceaux d'interférence (F1, F2) et formant des lignes d'interférence (13) suivant l'axe transversal (Ox) de l'interférogramme (12) appartenant au plan (xOy) du dioptre (11), lesdits moyens de capture (15,18) comprenant un réseau (18) d'éléments de détection (19) agencé pour détecter la répartition spatiale dudit interférogramme (12), caractérisé en ce que ledit réseau (18) d'éléments de détection (19) est bidimensionnel et en ce qu'au moins une partie desdits moyens de capture (15, 18) et ledit interférogramme (12) sont inclinés l'un par rapport à l'autre suivant l'axe transversal (Ox) de l'interférogramme (12).La présente invention concerne également un dispositif d'imagerie spectroscopique comprenant des moyens d'émission de deux faisceaux d'interférence (F1, F2) et un tel spectromètre. |
