发明名称 |
Verfahren zur Planarisierung einer Halbleiterstruktur |
摘要 |
Ein Verfahren zur Planarisierung einer Halbleiterstruktur umfasst das Bewegen eines Konditionierelements auf einer Oberfläche eines Polierelements, das Drehen der Halbleiterstruktur relativ zu dem Polierelement in Berührung mit der Oberfläche des Polierelements, und das Spülen der Oberfläche des Polierelements und der Halbleiterstruktur. Während das Konditionierelement über die Oberfläche des Polierelements bewegt wird und die Halbleiterstruktur in Berührung mit der Oberfläche des Polierelements gedreht wird, wird Schlamm auf das Polierelement geleitet. Der Schritt des Spülens umfasst das Inkontakthalten des Konditionierelements mit der Oberfläche des Polierelements.
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申请公布号 |
DE102008016463(A1) |
申请公布日期 |
2009.10.01 |
申请号 |
DE200810016463 |
申请日期 |
2008.03.31 |
申请人 |
TEXAS INSTRUMENTS DEUTSCHLAND GMBH |
发明人 |
DAVIS, EUGENE C.;HAUSSMANN, JOERG WALTER;HAECKL, MARCUS PAUL |
分类号 |
H01L21/302;B24B37/04 |
主分类号 |
H01L21/302 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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