用于测试连接垫的电路

摘要

本发明是一种用于测试连接垫的电路，其用于测试多个连接垫，该电路包含至少一个测试电路、多个测试开关、多个连接垫开关，其中该些测试开关分别耦接于测试电路与该些连接垫之间，该些连接垫开关分别耦接该些连接垫之间，如此藉由该些连接垫开关与该些测试开关的配合，即可减少用于测试连接垫的测试装置的测试探针数量，进而降低设计测试装置的难度，且可减少成本。

主权项

1、一种用于测试连接垫的电路，其用于测试一个第一个连接垫与一个第二连接垫，其特征在于，该电路包含：至少一个测试电路；一个第一个测试开关，其耦接于该第一个连接垫与该测试电路之间；一个连接垫开关，其耦接于该第一个连接垫与该第二连接垫之间；以及一个第二测试开关，其耦接于该第二连接垫与该测试电路之间。