| 发明名称 | 透镜测量装置、透镜测量方法及透镜制造方法 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种透镜测量装置、透镜测量方法及透镜制造方法。透镜测量装置(1)包括：在以不改变透镜(7)的状态的方式支撑该透镜(7)的情况下使该透镜(7)在XY平面内移动的工作台(3)，对通过工作台(3)移动的透镜(7)的一个透镜面(71)上的点在Z轴方向上的位置进行测量的第一位置测量仪(4)，对通过工作台(3)移动的透镜(7)的另一个透镜面(72)上的点在Z轴方向上的位置进行测量的第二位置测量仪(5)，以及根据利用工作台(3)使透镜(7)产生移动的移动量、以及第一及第二位置测量仪(4、5)的测量结果求出透镜(7)的形状的控制装置(10)。因此，能够以高精度且高效的方式测量透镜的形状。 | ||
| 申请公布号 | CN101545750A | 申请公布日期 | 2009.09.30 |
| 申请号 | CN200910130185.7 | 申请日期 | 2009.03.24 |
| 申请人 | 松下电器产业株式会社 | 发明人 | 田中慎治;小西章雄 |
| 分类号 | G01B5/20(2006.01)I;G01B5/06(2006.01)I;C03B11/08(2006.01)I;G02B3/00(2006.01)I | 主分类号 | G01B5/20(2006.01)I |
| 代理机构 | 上海市华诚律师事务所 | 代理人 | 杨 暄 |
| 主权项 | 1. 一种透镜测量装置，其特征在于：所述透镜测量装置包括：透镜移动部，使透镜移动，第一位置测量机构，与所述透镜的一个面接触，对该接触点的位置进行测量，第二位置测量机构，与所述透镜的另一个面接触，对该接触点的位置进行测量，以及透镜形状计算部，根据利用所述透镜移动部使所述透镜产生移动的移动量、以及所述第一及第二位置测量机构的测量结果求出所述透镜的形状。 | ||
| 地址 | 日本国大阪府门真市大字门真1006番地 | ||