发明名称 |
用于浅地层剖面仪的地层剖面声探测方法 |
摘要 |
本发明提供一种用于浅地层剖面仪的地层剖面声探测方法,包括以下步骤,一、浅地层剖面仪首先产生线性调频发射信号,在线性调频发射信号中加入正弦平方1/8加窗函数,形成Chirp发射信号;二、Chirp发射信号经发射换能器向水体发射,接收水听器接收地层返回的回波信号,然后对回波信号做相关处理,相关处理的结果输出被显示到显示屏上,给出一串浓淡不一的反映地层界面特征的像素点;其中,对回波信号进行相关处理时,对浅地层剖面仪进行频率响应补偿,测得浅地层剖面仪的频率响应曲线,利用测得的频率响应曲线对回波信号进行频域补偿,去除浅地层剖面仪的频响干扰,提高信号的相关性。 |
申请公布号 |
CN101545974A |
申请公布日期 |
2009.09.30 |
申请号 |
CN200910097904.X |
申请日期 |
2009.04.23 |
申请人 |
杭州瑞声海洋仪器有限公司 |
发明人 |
施国全;王福林;韦俊霞;曹海林;郑军;范进良;赵爱君;刘畅;李小英;刘强 |
分类号 |
G01S15/88(2006.01)I |
主分类号 |
G01S15/88(2006.01)I |
代理机构 |
杭州赛科专利代理事务所 |
代理人 |
陈 辉 |
主权项 |
1、一种用于浅地层剖面仪的地层剖面声探测方法,其特征在于,包括以下步骤:一、浅地层剖面仪首先产生线性调频发射信号x(t):x(t)=Re{exp[j2πt(f1+Kt/2)]} (1)式中:x(t)为线性调频发射信号;Re{exp[j2πt(f1+Kt/2)]}为对其取实部;f1为调频信号的起始频率;则调频斜率K为:K=△f/△t△f为调频信号的频带宽度;△t为调频信号的时间长度;在线性调频发射信号x(t)中加入正弦平方1/8加窗函数w(t),形成线性调频发射信号s(t):s(t)=x(t)*w(t); (2)式中,w(t)为加窗函数的时间序列,t=0~N-1;正弦平方1/8加窗函数w(t)为:式中,N为线性调频发射信号的采样点数;二、线性调频发射信号s(t)经发射换能器向水体发射,接收水听器接收地层返回的回波信号,然后对回波信号做相关处理,相关处理的结果输出被显示到显示屏上,给出一串浓淡不一的反映地层界面特征的像素点;其中,对回波信号进行相关处理时,对浅地层剖面仪进行频率响应补偿,测得浅地层剖面仪的频率响应曲线,利用测得的频率响应曲线对回波信号进行频域补偿,去除浅地层剖面仪的频响干扰,提高信号的相关性。 |
地址 |
310018浙江省杭州市淳安县千岛湖镇大地村 |