发明名称 |
检查装置 |
摘要 |
本发明的目的在于,对于进行检体的分析的检查装置,在实现小型化的同时,遮蔽随着提高光源的亮度而向光源周围发出的电磁波。一种检查装置,具备:具有收容检查流体的检查流体收容部的微芯片;放电灯,向前述微芯片的检查流体收容部射入光到前述检查流体;收容该放电灯的光源收容部;根据从检查流体收容部射出的光的强度来计算检测对象成分的浓度的运算机构,该检查装置的特征在于,前述光源收容部是在由绝缘材料形成的框体部的外部,具备用于遮蔽从前述光源放射出来的电磁波且接地(earth)的遮蔽机构。 |
申请公布号 |
CN101545858A |
申请公布日期 |
2009.09.30 |
申请号 |
CN200910129853.4 |
申请日期 |
2009.03.26 |
申请人 |
优志旺电机株式会社 |
发明人 |
小川义正;美安胜置;奥村善彦 |
分类号 |
G01N21/39(2006.01)I;G01N21/15(2006.01)I |
主分类号 |
G01N21/39(2006.01)I |
代理机构 |
永新专利商标代理有限公司 |
代理人 |
许玉顺;胡建新 |
主权项 |
1. 一种检查装置,具备:微芯片,具有用于收容检查流体的检查流体收容部;放电灯,向前述检查流体收容部入射光;光源收容部,收容该放电灯;以及运算机构,根据从前述检查流体收容部射出的光的强度来计算检测对象成分的浓度,该检查装置的特征在于,前述光源收容部在由绝缘材料形成的框体部的外部具备接地的遮蔽机构,该遮蔽机构遮蔽由前述光源放射出的电磁波。 |
地址 |
日本东京都 |