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Ein System (30) zum Bestimmen einer Brechzahl (n(Objekt)) eines Messobjekts (31), mit einer Lichtquelle (32) zum Aussenden von Licht (33) einer vordefinierten Wellenlänge, einem integrierten Sensorelement (35) mit einem opto-elektronischen Sensor (36) und einer Metallschichtstruktur (37) mit wenigstens einer strukturierten Metallschicht (44), wobei der opto-elektronische Sensor (36) und die Metallschichtstruktur (37) gemeinsam auf einem Halbleitersubstrat (38) integriert sind, einer Einrichtung (39) zum Halten des Messobjekts (31) zwischen dem integrierten Sensorelement (35) und der Lichtquelle (32), so dass die Metallschichtstruktur (37) zwischen dem Messobjekt (31) und dem opto-elektronischen Sensor (36) angeordnet ist und so dass sich ein Ausgangssignal des opto-elektronischen Sensors (36) auf das Licht (33) mit der vordefinierten Wellenlänge abhängig von der Brechzahl (n(Objekt)) des Messobjekts (31) ändert, und einer Einrichtung (40) zum Ermitteln der Brechzahl (n(Objekt)) des Messobjekts (31), basierend auf dem Ausgangssignal des opto-elektronischen Sensors (36).
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