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发明名称
INTERFACE APPARATUS FOR TESTING DARK CURRENT CHARACTERISTIC OF PHOTO DIODE, AND METHOD FOR TESTING DARK CURRENT CHARACTERISTIC
摘要
申请公布号
KR100919051(B1)
申请公布日期
2009.09.24
申请号
KR20070108411
申请日期
2007.10.26
申请人
发明人
分类号
H04B10/07;H04B10/00
主分类号
H04B10/07
代理机构
代理人
主权项
地址
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