| 摘要 |
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Überwachung und Überprüfung einer Messeinrichtung zur berührungslosen Erfassung der relativen Position zwischen einem ersten Element (6) und einem zweiten Element (8) mit Hilfe eines Positionssensors (4), der wenigstens vier, mit dem ersten Element (6) oder mit dem zweiten Element (8) verbundene Oszillatoren (I bis VI) sowie wenigstens ein Ausgangsignal der Oszillatoren (I bis VI) beeinflussendes, mit dem zweiten Element (8) oder mit dem ersten Element (6) verbundenes Beeinflussungselement (22) aufweist. Das Verfahren sieht wenigstens die folgenden Schritte vor: a) Überprüfen der von den Oszillatoren (I bis VI) ausgesteuerten Ausgangssignale anhand wenigstens eines Prüfkriteriums und, b) falls die Ausgangssignale aller Oszillatoren (I bis VI) das wenigstens eine Prüfkriterium erfüllen, dann Ermitteln der relativen Position zwischen dem ersten Element (6) und dem zweiten Element (8) auf der Basis des Ausgangssignals wenigsten eines Oszillators (I bis VI) oder, c) falls wenigstens einer der Oszillatoren (I bis VI) Ausgangssignale aussteuert, welche das wenigstens eine Prüfkriterium nicht erfüllen, dann Bilden von wenigstens zwei Gruppen (I bis III, IV bis VI) von Oszillatoren aus der Gesamtheit von Oszillatoren (I bis VI), wobei keiner der Oszillatoren (I bis VI) gleichzeitig Mitglied in mehreren Gruppen (I bis III, IV bis VI) von Oszillatoren ist, und, c1) falls die Ausgangssignale wenigstens eines Oszillators wenigstens ...
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