发明名称 |
X射线装置 |
摘要 |
本发明涉及一种X射线装置,其具有一检测器和一可调节的、使X射线照射到受检部位的光阑,其中,所述检测器(6)可不对称地被控制和读取,并且所述光阑(8)可不对称地移动。 |
申请公布号 |
CN100539945C |
申请公布日期 |
2009.09.16 |
申请号 |
CN200510006414.6 |
申请日期 |
2005.01.31 |
申请人 |
西门子公司 |
发明人 |
伯克哈德·格罗;沃尔克·希尔;马赛厄斯·霍尼格;伯恩哈德·桑德坎普 |
分类号 |
A61B6/00(2006.01)I;A61B6/06(2006.01)I;G21K5/00(2006.01)I |
主分类号 |
A61B6/00(2006.01)I |
代理机构 |
北京市柳沈律师事务所 |
代理人 |
侯 宇;陶凤波 |
主权项 |
1.一种X射线装置,其具有:-可调光阑(8),用于使X射线照射到受检部位上,-被入射X射线照射的检测器(6),该检测器(6)具有靠近病人的部分表面和远离病人的剩余表面,其中,为仅读取该检测器(6)的靠近病人的部分表面,对该检测器(6)进行不对称的控制,并且相应地不对称地移动所述光阑(8),其特征在于,这样控制所述检测器(6),使得被读取的所述部分表面仅为所述检测器表面的一半或四分之一,所述检测器(6)由多块a-Si板组成,读取其中一块板的面积。 |
地址 |
德国慕尼黑 |