发明名称 X射线装置
摘要 本发明涉及一种X射线装置,其具有一检测器和一可调节的、使X射线照射到受检部位的光阑,其中,所述检测器(6)可不对称地被控制和读取,并且所述光阑(8)可不对称地移动。
申请公布号 CN100539945C 申请公布日期 2009.09.16
申请号 CN200510006414.6 申请日期 2005.01.31
申请人 西门子公司 发明人 伯克哈德·格罗;沃尔克·希尔;马赛厄斯·霍尼格;伯恩哈德·桑德坎普
分类号 A61B6/00(2006.01)I;A61B6/06(2006.01)I;G21K5/00(2006.01)I 主分类号 A61B6/00(2006.01)I
代理机构 北京市柳沈律师事务所 代理人 侯 宇;陶凤波
主权项 1.一种X射线装置,其具有:-可调光阑(8),用于使X射线照射到受检部位上,-被入射X射线照射的检测器(6),该检测器(6)具有靠近病人的部分表面和远离病人的剩余表面,其中,为仅读取该检测器(6)的靠近病人的部分表面,对该检测器(6)进行不对称的控制,并且相应地不对称地移动所述光阑(8),其特征在于,这样控制所述检测器(6),使得被读取的所述部分表面仅为所述检测器表面的一半或四分之一,所述检测器(6)由多块a-Si板组成,读取其中一块板的面积。
地址 德国慕尼黑