支援测试电子装置之系统,用于该系统之温度控制单元以及用于控制处理室之内部温度的方法

摘要

本发明揭示一种支援测试电子装置之系统及用于该系统之温度控制单元。本发明亦揭示一种用于该系统之一处理室的温度控制方法。当在低或高温处测试电子装置时低或高温空气系供应至该处理室之内部。当在室温处测试电子装置时外部空气系供应至该处理室之内部。