发明名称 半导体晶圆量测装置和方法
摘要 本发明提供一种半导体晶圆量测技术,其包括执行一晶圆之大气浮力补偿称重,其中该晶圆在一大体上直立的条件下进行称重。相较于一水平晶圆定向,一垂直或近乎垂直之晶圆定向会使在一力(重量)感测器方向上的表面积减小。因此,作用在与该晶圆之重力分量相同的方向上之静电力分量亦减小。
申请公布号 TW200938814 申请公布日期 2009.09.16
申请号 TW097138287 申请日期 2008.10.03
申请人 美特拉斯有限公司 发明人 罗伯特 约翰 威比
分类号 G01G9/00(2006.01);H01L21/66(2006.01) 主分类号 G01G9/00(2006.01)
代理机构 代理人 陈长文
主权项
地址 英国