发明名称 | 反应分析装置、记录介质、测量系统及控制系统 | ||
摘要 | 本发明能够以高可再现性准确地确定反应区域处于异常反应状态中,根据反应区域的状态执行正确的分析处理,并且有效地分析反应区域的特征。本发明设置有:获取装置330和332,其用于从光谱仪对从反应区域发射的光的测量结果302获得第一和第二波长分量的强度值;相对强度计算部分334,其用于根据第一和第二波长分量的强度值计算第一波长分量相对于第二波长分量的相对强度;确定部分336,其用于确定所计算的相对强度是否是预定范围内的值;以及输出部分316,其用于当确定相对强度是预定范围内的值时通知反应区域的状态处于预定状态。 | ||
申请公布号 | CN101535797A | 申请公布日期 | 2009.09.16 |
申请号 | CN200780042665.7 | 申请日期 | 2007.11.17 |
申请人 | 创想科学技术工程株式会社 | 发明人 | 池田裕二;西山淳 |
分类号 | G01N21/71(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/71(2006.01)I |
代理机构 | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人 | 侯颖媖 |
主权项 | 1. 一种反应分析装置,包括:获取装置,其用于从光谱仪对从反应区域发射的光的测量结果获得第一波长分量的强度值和第二波长分量的强度值;相对强度计算装置,其用于根据由所述获取装置获得的所述第一波长分量的强度值和所述第二波长分量的强度值计算所述第一波长分量相对于所述第二波长分量的相对强度;确定装置,其用于确定由所述相对强度计算装置计算的所述相对强度是否是预定范围内的值;以及通知装置,其响应于由所述确定装置作出的所述相对强度是所述预定范围内的值的确定而通知所述反应区域的状态处于预定状态。 | ||
地址 | 日本兵库县 |